미세조직이 Sn계 무연솔더의 크리프 특성에 미치는 영향Effects of Microstructure on the Creep Properties of the Lead-freeSn-based Solders

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dc.contributor.author유진ko
dc.contributor.author이규오ko
dc.contributor.author주대권ko
dc.date.accessioned2013-03-05T04:36:47Z-
dc.date.available2013-03-05T04:36:47Z-
dc.date.created2012-02-06-
dc.date.created2012-02-06-
dc.date.issued2003-09-
dc.identifier.citation마이크로전자 및 패키징학회지, v.10, no.3, pp.29 - 35-
dc.identifier.issn1226-9360-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10203/85520-
dc.description.abstractSnAg, SnAgCu, SnCu 무연솔더합금을 주조 상태에서 냉간압연한 후 열적으로 안정화한 시편(TS)과, 실제 솔더 범프와 유사한 미세구조의 수냉에 급속 냉각(WQ)된 시편 두가지를 100oC에서 크리프실험을 행하였다. 급속냉각한 시편의 냉각속도는 140~150 K/sec로 primary β-Sn 크기가 TS 시편보다5~10배 정도 작았으며, 기지내 primary β-Sn이 차지하는 분율은 증가하였다. 반면에 공정상 내의 Ag3Sn상의 크기는 더 작아졌다. 크리프 실험 결과 WQ 시편의 최소크리프 변형율 속도( min)가 TS 보다 약 102배 정도 작았으며, 더 큰 파괴시간을 보였다. TS-SnAg의 크리프파괴는 Ag3Sn 또는 Cu6Sn5에서의 공공의 핵생성, power-law 크리프에 의한 공공의 성장, 그리고 크리프 공공의 상호 연결로 일어났으며, WQ-SnAgCu는 시편이 두께가 얇아 네킹에 의해 파괴가 일어났다.-
dc.languageKorean-
dc.publisher한국마이크로전자및패키징학회-
dc.title미세조직이 Sn계 무연솔더의 크리프 특성에 미치는 영향-
dc.title.alternativeEffects of Microstructure on the Creep Properties of the Lead-freeSn-based Solders-
dc.typeArticle-
dc.type.rimsART-
dc.citation.volume10-
dc.citation.issue3-
dc.citation.beginningpage29-
dc.citation.endingpage35-
dc.citation.publicationname마이크로전자 및 패키징학회지-
dc.identifier.kciidART000863866-
dc.contributor.localauthor유진-
dc.contributor.nonIdAuthor이규오-
dc.contributor.nonIdAuthor주대권-
dc.subject.keywordAuthorPb-fre solder-
dc.subject.keywordAuthorElectronic packaging-
dc.subject.keywordAuthorCreep-
dc.subject.keywordAuthorSolder bump-
dc.subject.keywordAuthorPb-fre solder-
dc.subject.keywordAuthorElectronic packaging-
dc.subject.keywordAuthorCreep-
dc.subject.keywordAuthorSolder bump-
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MS-Journal Papers(저널논문)
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