다중 두 파장 레이저 간섭계를 이용한 절대 길이 측정 장치absolute distance measuring apparatus using multi-two-color interferometer
본 발명의 목적은 기하학적 길이를 측정함에 있어서 두 가지 파장의 레이저 광을 사용하는 간섭계를 이용하여 경제적이고 효율적으로 길이를 측정함과 동시에 매질 굴절률에 따른 오류를 보상하여 정확도를 극대화하며, 또한 서로 다른 파장을 가지는 이러한 간섭계들을 다중으로 이용하여 절대 길이를 측정할 수 있도록 하는, 다중 두 파장 레이저 간섭계를 이용한 절대 길이 측정 장치를 제공함에 있다.
- Assignee
- 한국과학기술원
- Country
- KO (South Korea)
- Application Date
- 2015-12-15
- Application Number
- 10-2015-0179328
- Registration Date
- 2017-06-07
- Registration Number
- 10-1746693-0000
- Appears in Collection
- ME-Patent(특허)
- Files in This Item
- There are no files associated with this item.
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.