다중 두 파장 레이저 간섭계를 이용한 절대 길이 측정 장치absolute distance measuring apparatus using multi-two-color interferometer
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 김승우 | ko |
| dc.contributor.author | 장윤수 | ko |
| dc.contributor.author | 강현재 | ko |
| dc.contributor.author | 천병재 | ko |
| dc.contributor.author | 한성흠 | ko |
| dc.date.accessioned | 2024-02-16T00:00:33Z | - |
| dc.date.available | 2024-02-16T00:00:33Z | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/318066 | - |
| dc.description.abstract | 본 발명의 목적은 기하학적 길이를 측정함에 있어서 두 가지 파장의 레이저 광을 사용하는 간섭계를 이용하여 경제적이고 효율적으로 길이를 측정함과 동시에 매질 굴절률에 따른 오류를 보상하여 정확도를 극대화하며, 또한 서로 다른 파장을 가지는 이러한 간섭계들을 다중으로 이용하여 절대 길이를 측정할 수 있도록 하는, 다중 두 파장 레이저 간섭계를 이용한 절대 길이 측정 장치를 제공함에 있다. | - |
| dc.title | 다중 두 파장 레이저 간섭계를 이용한 절대 길이 측정 장치 | - |
| dc.title.alternative | absolute distance measuring apparatus using multi-two-color interferometer | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.type.rims | PAT | - |
| dc.contributor.localauthor | 김승우 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 장윤수 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 강현재 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 한성흠 | - |
| dc.contributor.assignee | 한국과학기술원 | - |
| dc.identifier.iprsType | 특허 | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2015-0179328 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-1746693-0000 | - |
| dc.date.application | 2015-12-15 | - |
| dc.date.registration | 2017-06-07 | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
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