망막전위도 검사용 광원 일체형 콘택트렌즈 및 그의 제조방법CONTACT LENS FOR ELECTRORETINOGRAPHY INTEGRATED WITH LIGHT SOURCE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME
본 발명은 망막 전위도 검사용 광원 일체형 콘택트렌즈로서, 광원; 상기 광원으로부터의 빛을 산란하는 산란 물질; 및 상기 광원으로부터의 자극에 의한 망막 전위도 변화를 측정하기 위한 전극;을 포함하는 망막전위도 검사용 광원 일체형 콘택트렌즈 및 그 제조 방법에 관한 것이다.
- Assignee
- 서울대학교병원,한국과학기술원
- Country
- KO (South Korea)
- Application Date
- 2020-09-02
- Application Number
- 10-2020-0111756
- Registration Date
- 2022-06-10
- Registration Number
- 10-2409241-0000
- Appears in Collection
- EE-Patent(특허)
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