망막전위도 검사용 광원 일체형 콘택트렌즈 및 그의 제조방법CONTACT LENS FOR ELECTRORETINOGRAPHY INTEGRATED WITH LIGHT SOURCE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME

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dc.contributor.author유승협ko
dc.contributor.author우세준ko
dc.contributor.author김태현ko
dc.contributor.author송진욱ko
dc.date.accessioned2022-07-26T12:00:22Z-
dc.date.available2022-07-26T12:00:22Z-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10203/297588-
dc.description.abstract본 발명은 망막 전위도 검사용 광원 일체형 콘택트렌즈로서, 광원; 상기 광원으로부터의 빛을 산란하는 산란 물질; 및 상기 광원으로부터의 자극에 의한 망막 전위도 변화를 측정하기 위한 전극;을 포함하는 망막전위도 검사용 광원 일체형 콘택트렌즈 및 그 제조 방법에 관한 것이다.-
dc.title망막전위도 검사용 광원 일체형 콘택트렌즈 및 그의 제조방법-
dc.title.alternativeCONTACT LENS FOR ELECTRORETINOGRAPHY INTEGRATED WITH LIGHT SOURCE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME-
dc.typePatent-
dc.type.rimsPAT-
dc.contributor.localauthor유승협-
dc.contributor.nonIdAuthor우세준-
dc.contributor.nonIdAuthor김태현-
dc.contributor.nonIdAuthor송진욱-
dc.contributor.assignee서울대학교병원,한국과학기술원-
dc.identifier.iprsType특허-
dc.identifier.patentApplicationNumber10-2020-0111756-
dc.identifier.patentRegistrationNumber10-2409241-0000-
dc.date.application2020-09-02-
dc.date.registration2022-06-10-
dc.publisher.countryKO-
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EE-Patent(특허)
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