관측평점과 유사도 그래프를 활용한 추천 알고리즘의 평점 예측 방법Rating Prediction Method for Recommendation Algorithm Based on Observed Ratings and Similarity Graphs
본 발명은 관측평점과 유사도 그래프를 활용한 추천 알고리즘의 평점 예측 방법에 관한 것으로서, 다양한 분야의 추천 시스템, 또는 그에 구비된 평점 예측 장치에서 실행될 수 있는, 본 발명의 평점 예측 방법은, 관측평점 이외에도 관측평점으로 주어진 정보가 부족한 경우에 추가로 주어진 유사도 그래프(Similarity Graph)를 더 이용하여 평점 예측의 정확도를 높이고 평점 예측의 성능을 극대화시키는 추천 알고리즘의 평점 예측 방법을 제공한다.
- Assignee
- 한국과학기술원
- Country
- KO (South Korea)
- Application Date
- 2019-05-22
- Application Number
- 10-2019-0060316
- Registration Date
- 2021-11-02
- Registration Number
- 10-2323424-0000
- Appears in Collection
- EE-Patent(특허)
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