안드로이드 커널 모듈 취약점 탐지를 위한 자동화된 유닛 테스트 생성 기법Automated Unit-test Generation for Detecting Vulnerabilities of Android Kernel Modules

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dc.contributor.author김윤호ko
dc.contributor.author김문주ko
dc.date.accessioned2019-04-16T05:50:10Z-
dc.date.available2019-04-16T05:50:10Z-
dc.date.created2019-04-05-
dc.date.issued2016-06-30-
dc.identifier.citation2016 한국컴퓨터종합학술대회-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10203/260783-
dc.description.abstract본 논문에서는 안드로이드 커널 모듈의 취약점을 탐지하기 위한 자동 유닛 테스트 생성 기법을 제안한다. 안드로이드 커널 모듈의 각 함수를 대상으로 테스트 드라이버/스텁 함수를 자동 생성하고 동적 기호실행 기법을 사용하여 테스트 입력 값을 자동으로 생성한다. 또한 안드로이드 커널 모듈의 함수 포인터와 함수 선행 조건을 고려하지 않은 테스트 생성으로 인한 거짓 경보를 줄이기 위해 정적 분석을 통한 함수 포인터 매칭 기법과 def-use 분석을 사용한 함수 선행 조건 생성 기법을 제안한다. 자동 유닛 테스트 생성 기법을 안드로이드 커널 3.4 버전의 세 모듈에 적용한 결과 기존에 존재하던 취약점을 모두 탐지할 수 있었으며 제안한 거짓 경보 감소 기법으로 평균 44.9%의 거짓 경보를 제거할 수 있었다.-
dc.languageKorean-
dc.publisher한국정보과학회-
dc.title안드로이드 커널 모듈 취약점 탐지를 위한 자동화된 유닛 테스트 생성 기법-
dc.title.alternativeAutomated Unit-test Generation for Detecting Vulnerabilities of Android Kernel Modules-
dc.typeConference-
dc.type.rimsCONF-
dc.citation.publicationname2016 한국컴퓨터종합학술대회-
dc.identifier.conferencecountryKO-
dc.identifier.conferencelocation제주 ICC&부영호텔-
dc.contributor.localauthor김문주-
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CS-Conference Papers(학술회의논문)
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