외부 공통 성분의 방해 자기장을 효과적으로 제거하는 센싱 장치Apparatus for Eliminating Common External B field Interference

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외부 공통 성분의 방해 자기장을 효과적으로 제거하는 센싱 장치를 개시한다.본 실시예는 자석과 자성체 간의 자기장을 센싱할 때, 차동 센싱(Differenctial Sensing)방식을 적용할 수 있는 자석 구조로 인해 공통 외부 방해 자기장(Common External B field Interference)을 제거할 수 있을 뿐만 아니라, 센싱 게인(Sensing Gain)을 증가시킬 수 있는 센싱 장치를 제공한다.
Assignee
한국과학기술원
Country
KO (South Korea)
Issue Date
2018-01-24
Application Date
2016-02-03
Application Number
10-2016-0013232
Registration Date
2018-01-24
Registration Number
10-1823571-0000
URI
http://hdl.handle.net/10203/256500
Appears in Collection
NE-Patent(특허)EE-Patent(특허)
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