외부 공통 성분의 방해 자기장을 효과적으로 제거하는 센싱 장치Apparatus for Eliminating Common External B field Interference
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 임춘택 | ko |
| dc.contributor.author | 박상휘 | ko |
| dc.contributor.author | 이상한 | ko |
| dc.contributor.author | 조규형 | ko |
| dc.date.accessioned | 2019-04-15T17:14:29Z | - |
| dc.date.available | 2019-04-15T17:14:29Z | - |
| dc.date.issued | 2018-01-24 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/256500 | - |
| dc.description.abstract | 외부 공통 성분의 방해 자기장을 효과적으로 제거하는 센싱 장치를 개시한다.본 실시예는 자석과 자성체 간의 자기장을 센싱할 때, 차동 센싱(Differenctial Sensing)방식을 적용할 수 있는 자석 구조로 인해 공통 외부 방해 자기장(Common External B field Interference)을 제거할 수 있을 뿐만 아니라, 센싱 게인(Sensing Gain)을 증가시킬 수 있는 센싱 장치를 제공한다. | - |
| dc.title | 외부 공통 성분의 방해 자기장을 효과적으로 제거하는 센싱 장치 | - |
| dc.title.alternative | Apparatus for Eliminating Common External B field Interference | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.type.rims | PAT | - |
| dc.contributor.localauthor | 임춘택 | - |
| dc.contributor.localauthor | 조규형 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 박상휘 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 이상한 | - |
| dc.contributor.assignee | 한국과학기술원 | - |
| dc.identifier.iprsType | 특허 | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2016-0013232 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-1823571-0000 | - |
| dc.date.application | 2016-02-03 | - |
| dc.date.registration | 2018-01-24 | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
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