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First-principles study of defect properties in ultrathin MOS-based devices and diluted magnetic semiconductors = 초미세 MOS 기반 소자 및 자성 반도체에서의 결함특성에 관한 제일원리 연구link Kang, Joon-Goo; 강준구; et al, 한국과학기술원, 2007 |
분광타원계측에 의한 나노미터 두께 게이트 산화막의 광특성 측정 연구 = Measurement of optical properties of nanometer-thick gate oxide films by spectroscopic ellipsometrylink 조현모; Cho, Hyun-Mo; et al, 한국과학기술원, 2001 |
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