나노 물질의 광학적 특성을 이용한 변형률 측정 방법 및 장치METHOD AND APPARATUS FOR STRAIN MEASUREMENT USING OPTICAL PROPERTIES OF NANO MATERIALS

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dc.contributor.author이순복ko
dc.contributor.author장동원ko
dc.date.accessioned2017-12-20T11:18:19Z-
dc.date.available2017-12-20T11:18:19Z-
dc.date.issued2013-05-23-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10203/233809-
dc.description.abstract본 발명은 나노 물질의 광학적 특성을 이용한 변형률 측정 방법 및 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 나노 입자간의 거리가 변화하면, 색깔도 함께 변화하는 현상을 이용하여 물질의 변형률을 측정하는 방법 및 장치에 관한 것이다.본 발명에 의하면, 나노 입자간의 거리가 변화하면 색깔도 함께 변화하는 현상을 이용하여 물질의 변형률을 측정하는 방법 및 장치를 제공하는 효과가 있다.-
dc.title나노 물질의 광학적 특성을 이용한 변형률 측정 방법 및 장치-
dc.title.alternativeMETHOD AND APPARATUS FOR STRAIN MEASUREMENT USING OPTICAL PROPERTIES OF NANO MATERIALS-
dc.typePatent-
dc.type.rimsPAT-
dc.contributor.localauthor이순복-
dc.contributor.nonIdAuthor장동원-
dc.contributor.assignee한국과학기술원-
dc.identifier.iprsType특허-
dc.identifier.patentApplicationNumber10-2011-0054131-
dc.identifier.patentRegistrationNumber10-1269229-0000-
dc.date.application2011-06-03-
dc.date.registration2013-05-23-
dc.publisher.countryKO-
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