나노 물질의 광학적 특성을 이용한 변형률 측정 방법 및 장치METHOD AND APPARATUS FOR STRAIN MEASUREMENT USING OPTICAL PROPERTIES OF NANO MATERIALS
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 이순복 | ko |
| dc.contributor.author | 장동원 | ko |
| dc.date.accessioned | 2017-12-20T11:18:19Z | - |
| dc.date.available | 2017-12-20T11:18:19Z | - |
| dc.date.issued | 2013-05-23 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/233809 | - |
| dc.description.abstract | 본 발명은 나노 물질의 광학적 특성을 이용한 변형률 측정 방법 및 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 나노 입자간의 거리가 변화하면, 색깔도 함께 변화하는 현상을 이용하여 물질의 변형률을 측정하는 방법 및 장치에 관한 것이다.본 발명에 의하면, 나노 입자간의 거리가 변화하면 색깔도 함께 변화하는 현상을 이용하여 물질의 변형률을 측정하는 방법 및 장치를 제공하는 효과가 있다. | - |
| dc.title | 나노 물질의 광학적 특성을 이용한 변형률 측정 방법 및 장치 | - |
| dc.title.alternative | METHOD AND APPARATUS FOR STRAIN MEASUREMENT USING OPTICAL PROPERTIES OF NANO MATERIALS | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.type.rims | PAT | - |
| dc.contributor.localauthor | 이순복 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 장동원 | - |
| dc.contributor.assignee | 한국과학기술원 | - |
| dc.identifier.iprsType | 특허 | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2011-0054131 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-1269229-0000 | - |
| dc.date.application | 2011-06-03 | - |
| dc.date.registration | 2013-05-23 | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
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