나노 물질의 광학적 특성을 이용한 변형률 측정 방법 및 장치METHOD AND APPARATUS FOR STRAIN MEASUREMENT USING OPTICAL PROPERTIES OF NANO MATERIALS
본 발명은 나노 물질의 광학적 특성을 이용한 변형률 측정 방법 및 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 나노 입자간의 거리가 변화하면, 색깔도 함께 변화하는 현상을 이용하여 물질의 변형률을 측정하는 방법 및 장치에 관한 것이다.본 발명에 의하면, 나노 입자간의 거리가 변화하면 색깔도 함께 변화하는 현상을 이용하여 물질의 변형률을 측정하는 방법 및 장치를 제공하는 효과가 있다.
- Assignee
- 한국과학기술원
- Country
- KO (South Korea)
- Issue Date
- 2013-05-23
- Application Date
- 2011-06-03
- Application Number
- 10-2011-0054131
- Registration Date
- 2013-05-23
- Registration Number
- 10-1269229-0000
- Appears in Collection
- ME-Patent(특허)
- Files in This Item
- There are no files associated with this item.
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.