적외선 센서칩, 적외선 감지기, 이의 동작 방법 및 테스트 방법INFRARED SENSOR CHIP, INFRARED DETECTOR AND METHOD FOR OPERATING AND TESTING THE SAME
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 김희연 | ko |
| dc.contributor.author | 김경민 | ko |
| dc.contributor.author | 김병일 | ko |
| dc.contributor.author | 경기명 | ko |
| dc.contributor.author | 박재홍 | ko |
| dc.contributor.author | 이귀로 | ko |
| dc.contributor.author | 김경태 | ko |
| dc.date.accessioned | 2017-12-20T10:53:08Z | - |
| dc.date.available | 2017-12-20T10:53:08Z | - |
| dc.date.issued | 2015-05-06 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/232984 | - |
| dc.description.abstract | 실시예에 따르면, 액티브 매트릭스, 로우 라인 선택부 및 출력 멀티플렉서부로 구성된 CMOS회로 기판; 및 상기 CMOS 회로 기판 상에 적층되며, 액티브 셀과 레퍼런스 셀로 구성되는 볼로미터를 포함하고, 웨이퍼 또는 칩 상태에서의 상기 볼로미터에 대한 동작, 최종 및 파라메트릭 테스트를 위해, 상기 로우 라인 선택부는 상기 볼로미터 중 전압 인가의 대상이 되는 셀을 선택하고, 상기 출력 멀티플렉서부는 상기 전압 인가에 따른 전류 특성을 출력하는 적외선 센서칩이 제공된다. | - |
| dc.title | 적외선 센서칩, 적외선 감지기, 이의 동작 방법 및 테스트 방법 | - |
| dc.title.alternative | INFRARED SENSOR CHIP, INFRARED DETECTOR AND METHOD FOR OPERATING AND TESTING THE SAME | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.type.rims | PAT | - |
| dc.contributor.localauthor | 이귀로 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 김희연 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 김경민 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 김병일 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 경기명 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 박재홍 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 김경태 | - |
| dc.contributor.assignee | 한국과학기술원 | - |
| dc.identifier.iprsType | 특허 | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2013-7009494 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-1519607-0000 | - |
| dc.date.application | 2013-04-15 | - |
| dc.date.registration | 2015-05-06 | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
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