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1
임피던스-유도파 기반의 손상 감지 방법 및 임피던스-유도파 통합 계측 장치

손훈; 안윤규, 2013-01-17

2
SURFACE INSPECTION APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR CHIPS

손훈; 안윤규; 양진열; 황순규; 문연조; 김상영; 하승원; 조성일, 2016-11-22

3
비파괴 검사를 위한 레이저 위상 잠금 열화상 장치

손훈; 안윤규; 김지민, 2013-10-15

4
듀얼센서를 이용한 손상감지방법

손훈; 안윤규, 2012-03-16

5
반도체 칩 표면검사 장치 및 이를 이용한 반도체 칩의 표면검사 방법

손훈; 안윤규; 양진열; 황순규; 문연조; 김상영; 하승원; 조성일

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