학위논문(석사) - 한국과학기술원 : 전기및전자공학부, 2016.2 ,[ii, 42 p. :]
nanowire; poly-crystalline silicon; electromigration; gate-all-around (GAA); degradation; hot-carrier injection (HCI); self-cuable; electrical annealing; Joule heat; reliability; 나노와이어; 폴리실리콘; 일렉트로마이그레이션; 전계 효과 트랜지스터; 신뢰성; 핫 캐리어에 의한 열화 현상; 어닐링
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