SAR ADC는 저전력 ADC로 공정과 함께 발전하는 ADC의 종류이다. 고해상도의 SAR ADC는 Reference DAC의 non-linearity와 비교기의 noise라는 두 가지 성능 제한 요인이 있다. SAR ADC의 경우Reference DAC으로 보통 Capacitor를 이용하여 구현한다. Capacitor를 사용하여 DAC을 구현할 경우 크기는 kT/C noise limitation으로 최소 값이 결정되며 SAR의 저전력 구현을 위해서는 이 값으로 구현하는 것이 필수적이다. 고해상도로 갈수록 DAC을 이루는 기본 unit capacitor가 작아지는데 이것은 mismatch 면에서 좋지 못하다. Bridge capacitor를 사용하면 비교적 큰 unit capacitor를 사용할 수 있으나 Bridge capacitor 자체의 matching이 어렵다.
본 논문에서는 Vcm을 기반의 Bridge capacitor를 사용한 DAC을 사용하는 SAR ADC에서의 capacitor DAC의 mismatch를 보정하는 calibration을 제안한다. 제안하는 기법을 통해 작은 capacitor를 사용하면서 높은 수준의 linearity를 얻을 수 있어 SAR ADC의 저전력 장점을 유지하였다. 또한 sub-binary decision을 사용함으로써 conversion 도중에 겪는 dynamic error 역시 보정하였다. 마지막으로 Assist SAR architecture를 사용함으로써 저전력, 고속동작을 가능하게 하였다. 결과로 65nm 공정을 사용하여50MS/s까지 동작할 수 있는 ADC를 구현하였는데 Nyquist input에서 6.23mW를 소모하며SFDR = 89.12dB의 성능을 보였다. 실제 측정 시에는 SNDR = 72.44dB, FoM = 36.4fJ/conv.step 정도로 예상된다.