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Study on the degradation of electron and hole's surface mobility by $Si/SiO_2$ interface roughness = $Si/SiO_2$ 경계면의 surface roughness 에 의한 전자 및 정공의 표면 이동도 감소에 대한 연구link Sim, Sang-Pil; 심상필; Kim, Choong-Ki; Lee, Kwy-Ro; et al, 한국과학기술원, 1990 |
Unified model for deep sub-micron on-chip interconnects including non-orthogonal architecture = 비직교형 아키텍쳐를 포함하는 깊은 서브 마이크론 On-chip interconnects 를 위한 통합 모델link Sim, Sang-Pil; 심상필; et al, 한국과학기술원, 2003 |
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