Browse "School of Electrical Engineering(전기및전자공학부)" by Subject 접지 무결성▼a시분할다중접속 잡음▼a고대역폭 메모리▼a동시스위칭 출력회로 잡음▼a접지 잡음
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| Modeling and analysis of ground integrity (GI) in power distribution network (PDN) of mobile systems and high bandwidth memory (HBM) = 모바일 시스템 및 고대역폭 메모리의 전력망에서 접지 무결성 모델링 및 분석link Park, Shinyoung; Kim, Joungho; et al, 한국과학기술원, 2021 |
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- 573 OA Article
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- 18,942 2010 - 2019
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