원자수준-해상도 주사 제벡 현미경 이미지의 컴퓨터 원용 시뮬레이션 방법 COMPUTER-AIDED SIMULATION METHOD FOR ATOMIC-RESOLUTION SCANNING SEEBECK MICROSCOPE IMAGES

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일 실시예에 따르면 원자수준-해상도(atomic-resolution) 주사 제벡 현미경 이미지(scanning seebeck microscope image)의 컴퓨터 원용 시뮬레이션 방법(compter-aided simulation method)으로서, 전압 탐침(voltage prove)의 위치 r에 대응하는 상기 주사 제벡 현미경 이미지를 획득하기 위해, 상기 전압 탐침의 위치 r에 대한 국지 열전 전압(local thermoelectric voltage; V(r))을 하기 수학식에 의해 컴퓨터가 계산하는 시뮬레이션 방법에 관한 것이다.: 팁(tip)과 샘플(sample)에서 확산 수송 영역(diffusive transport region)에서의 열전 전압 강하(thermoelectric voltage drop) : 위치-의존 제벡 계수(position-dependent Seebeck coefficient)r: 점 형태의 탐침으로부터 측정된 거리r': 소재 내부 좌표: 의 팩터(factor)에 의해 반경 방향으로 가중된 온도 구배(temparature gradient): 온도 프로파일의 부피 적분
Assignee
한국과학기술원
Country
KO (South Korea)
Issue Date
2015-12-02
Application Date
2014-05-09
Application Number
10-2014-0055617
Registration Date
2015-12-02
Registration Number
10-1575955-0000
URI
http://hdl.handle.net/10203/232100
Appears in Collection
NT-Patent(특허)
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