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Nanoprobing electrical properties of topological insulators and graphene using scanning probe microscopy = 주사탐침현미경을 이용한 위상부도체 및 그래핀의 전기적 특성 연구link Hwang, Jin Heui; 황진희; et al, 한국과학기술원, 2017 |
SPM (Scanning probe microscopy) study on carbon-based 2-dimensional materials = 탄소기반 2차원 물질의 주사탐침현미경 연구link Kwon, Sangku; 권상구; et al, 한국과학기술원, 2015 |
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