DC Field | Value | Language |
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dc.contributor.author | 이현수 | ko |
dc.contributor.author | 신원호 | ko |
dc.contributor.author | 권상구 | ko |
dc.contributor.author | 최장욱 | ko |
dc.contributor.author | 박정영 | ko |
dc.date.accessioned | 2013-03-09T14:19:30Z | - |
dc.date.available | 2013-03-09T14:19:30Z | - |
dc.date.created | 2012-03-19 | - |
dc.date.created | 2012-03-19 | - |
dc.date.issued | 2011-11 | - |
dc.identifier.citation | 한국진공학회지, v.20, no.6, pp.395 - 402 | - |
dc.identifier.issn | 1225-8822 | - |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/96585 | - |
dc.description.abstract | 원자힘 현미경을 이용하여 실리콘 기판 위에 증착된 실리콘 나노선과 리튬화된 실리콘 나노선의 나노기계적 성질을 연구했다. 금 촉매를 사용하여 스테인리스 기판 위에서 증기-액체-고체 과정을 통해 실리콘 나노선을 합성하였다. 완전히 리튬화된 실리콘 나노선을 얻기 위해서 전기 화학적 방법을 사용했고, 이를 실리콘 기판 위에 증착하였다. 접촉모드 원자힘 현미경으로 측정된 표면 거칠기는 실리콘 나노선에서 0.65±0.05 nm에 비해 리튬화된 실리콘 나노선에서 1.72±0.16 nm으로 더 큰 값을 보여주었다. 탐침과 표면 사이의 접착력에서 리튬화의 영향을 조사하기 위해 힘 분광기법을 사용했다. 실리콘 나노선의 접착력이 실리콘 기판과 ~60 nN으로 흡사한 반면에, 리튬화된 실리콘 나노선은 ~15 nN으로 더 작은 값을 나타냈다. 또한, 탄성적으로 부드러운 무정형 구조 때문에 국부적 탄성 스프링 상수도 실리콘 나노선 66.30 N/m보다 완전히 리튬화된 실리콘 나노선이 16.98 N/m으로 상대적으로 작았다. 실리콘 나노선과 완전히 리튬화된 실리콘 나노선에서 탐침과 표면 사이에 마찰력의 수직항력 의존성과 스캔 속도 의존성을 조사하기 위하여 각 0.5~4.0 Hz와 0.01~200 nN으로 측정했다. 본 연구에서 실리콘과 리튬화된 실리콘의 기계적 성질에 관련된 접착력과 마찰력의 경향성이 보여졌고 이러한 방향의 연구는 충-방전 동안 리튬화된 나노수준의 영역의 화학적 맵핑에 응용성을 보여준다. | - |
dc.language | Korean | - |
dc.publisher | 한국진공학회 | - |
dc.title | 원자힘 현미경으로 측정된 리튬화 실리콘 나노선의 나노기계적 성질 | - |
dc.title.alternative | Nanomechanical Properties of Lithiated Silicon Nanowires Probed with Atomic Force Microscopy | - |
dc.type | Article | - |
dc.type.rims | ART | - |
dc.citation.volume | 20 | - |
dc.citation.issue | 6 | - |
dc.citation.beginningpage | 395 | - |
dc.citation.endingpage | 402 | - |
dc.citation.publicationname | 한국진공학회지 | - |
dc.identifier.kciid | ART001604414 | - |
dc.contributor.localauthor | 박정영 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 이현수 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 신원호 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 권상구 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 최장욱 | - |
dc.subject.keywordAuthor | Fully lithiated silicon nanowire | - |
dc.subject.keywordAuthor | Atomic force microscopy | - |
dc.subject.keywordAuthor | Surface roughness | - |
dc.subject.keywordAuthor | Adhesion force | - |
dc.subject.keywordAuthor | Frictional force | - |
dc.subject.keywordAuthor | Fully lithiated silicon nanowire | - |
dc.subject.keywordAuthor | Atomic force microscopy | - |
dc.subject.keywordAuthor | Surface roughness | - |
dc.subject.keywordAuthor | Adhesion force | - |
dc.subject.keywordAuthor | Frictional force | - |
dc.subject.keywordAuthor | 리튬화된 실리콘 나노선 | - |
dc.subject.keywordAuthor | 원자힘 현미경 | - |
dc.subject.keywordAuthor | 표면 거칠기 | - |
dc.subject.keywordAuthor | 접착력 | - |
dc.subject.keywordAuthor | 마찰력 | - |
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