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Element-and depth-resolved exchange bias: likely exchange bias origin 이기석; 김상국; Kortright, J.B.; 장성호; 김광윤; 신성철, 한국자기학회 하계학술연구발표회 및 한일공동심포지움, pp.132 - 133, 한국자기학회, 2003 | |
Depth-Dependent Resonant Soft X-ray Kerr Effects in Exchange-Biased NiFe/FeMn/Co/Pd films 김상국; 이기석; Kortright, J.B.; 김광윤; 신성철, 한국물리학회 봄학술논문발표회, 한국물리학회, 2003-04 |
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