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| NO | Title, Author(s) (Publication Title, Volume Issue, Page, Issue Date) |
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| 방사선 노출에 따른 3T APS 성능 감소와 몬테카를로 시뮬레이션을 통한 픽셀 내부 결함의 비교분석 Cho, Gyuseong; Kim, Giyoon; Kim, Myung Soo; Lim, Kyung Taek; LEE, EUNJOONG; Kim, Chankyu; Park, Jonghwan, 한국방사선산업학회지, v.9, no.1, pp.1 - 7, 2015-03 |
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- 1 Article