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First-principles study on defects related to the instability of MOSFET and TFT devices = 제일원리 계산을 통한 MOSFET 및 TFT 소자의 불안정성 관련 결함에 대한 연구link Noh, Hyeon-Kyun; 노현균; et al, 한국과학기술원, 2013 |
Gate bias induced degradation in hydrogenated amorphous silicon thin film transistors = 수소화된 비정질 실리콘 박막 트랜지스터에서 게이트 바이어스에 의해 생성되는 열화현상에 대한 연구link Hwang, Chi-Sun; 황치선; Shin, Sung-Chul; Lee, Choo-Chon; et al, 한국과학기술원, 1996 |
수소화된 비정질 규소 박막 트랜지스터의 전기적 특성 연구 = The electrical properties of the hydrogenated amorphous siliconlink 위보령; Wi, Bo-Ryeong; 신성철; 이주천; et al, 한국과학기술원, 1997 |
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