DC Field | Value | Language |
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dc.contributor.advisor | 김호기 | - |
dc.contributor.advisor | Kim, Ho-Gi | - |
dc.contributor.author | 김동훈 | - |
dc.contributor.author | Kim, Dong-hun | - |
dc.date.accessioned | 2011-12-15T01:47:01Z | - |
dc.date.available | 2011-12-15T01:47:01Z | - |
dc.date.issued | 2005 | - |
dc.identifier.uri | http://library.kaist.ac.kr/search/detail/view.do?bibCtrlNo=243672&flag=dissertation | - |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/51643 | - |
dc.description | 학위논문(석사) - 한국과학기술원 : 신소재공학과, 2005.2, [ iv, 83 p. ] | - |
dc.description.abstract | 본 연구에서는 $Ge_2Sb_2Te_5$ 단일 타겟을 이용하여 RF magnetron sputtering법으로 증착하였으며, 균일하고 밀도 높은 $Ge_2Sb_2Te_5$ 박막을 얻기 위한 조건을 잡기위해 다양한 RF Power 와 Ar 압력 조건을 변수로 하여 실험을 하였다. 이렇게 증착된 박막의 미세구조와 전기적 특성을 비교하였다. 비정질로 증착 된 $Ge_2Sb_2Te_5$ 박막의 결정화를 조사하기 위하여 여러 온도에서 RTA 로 열처리를 한 뒤 XRD 분석을 하였다. Four point probe 로 각 어닐링 온도에 따른 비저항을 비교하였고, SEM 분석을 통해 미세구조 관찰과 두께를 측정하였으며 열처리 전ㆍ후의 두께 변화 및 밀도 변화를 측정하기 위해 XRR을 이용하였다. 위의 방법으로 최적의 $Ge_2Sb_2Te_5$ 박막의 증착 조건을 잡은 뒤, co-sputtering 법으로 $Ge_2Sb_2Te_5$ 에 소량의 Ag을 도핑하여 증착된 박막의 결정성과 전기적 특성을 평가하였다. | kor |
dc.language | kor | - |
dc.publisher | 한국과학기술원 | - |
dc.subject | 상변화 메모리 요구사항 | - |
dc.subject | 일관성 검증 | - |
dc.subject | Automated verification tool 2.6 | - |
dc.subject | Phase change random access memory tConsistency verification | - |
dc.subject | 자동 검증 도구 커널 2.6 | - |
dc.title | RF magnetron sputtering 법을 이용한 Ag 가 첨가된 $Ge_2Sb_2Te_5$ 박막의 형성 및 특성평가 | - |
dc.title.alternative | Preparation and characterization of Ag added $Ge_2Sb_2Te_5$ thin film by RF magnetron sputtering | - |
dc.type | Thesis(Master) | - |
dc.identifier.CNRN | 243672/325007 | - |
dc.description.department | 한국과학기술원 : 신소재공학과, | - |
dc.identifier.uid | 020033078 | - |
dc.contributor.localauthor | 김동훈 | - |
dc.contributor.localauthor | Kim, Dong-hun | - |
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