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Calulation of Trap Densities between BST/Pt Interface from Capacitance-Voltage Characteristics and Rapid Thermal Annealing Fttect for DRAM Application 이희철; 곽동화; 장병탁; 차선용, 제 4회 한국반도체 학술대회, pp.0 - 0, 1997-02-01 |
Ir Thin Film as a Bottom Electrode for High Dielectic (Ba,Sr)TiO3 Capacitor 이희철; 차선용; 장병탁; 곽동화, 제 4회 한국반도체 학술대회, pp.0 - 0, 1997-02-01 |
분자선 박막성장법에 의한 고성능 GaAs MESFET 이희철; 곽동화, 대한전자공학회 학술발표회, pp.186 - 190, 1993 |
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