직류와 교류 스트레스에 대한 다결정 실리콘 박막 트랜지스터의 안정성 연구Reliability of polysilicon thin film transistors(TFT's) under DC and AC stresses
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.advisor | 한철희 | - |
| dc.contributor.advisor | Han, Chul-Hi | - |
| dc.contributor.author | 우두형 | - |
| dc.contributor.author | Woo, Doo-Hyung | - |
| dc.date.accessioned | 2011-12-14T01:47:19Z | - |
| dc.date.available | 2011-12-14T01:47:19Z | - |
| dc.date.issued | 2001 | - |
| dc.identifier.uri | http://library.kaist.ac.kr/search/detail/view.do?bibCtrlNo=165426&flag=dissertation | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/37387 | - |
| dc.description | 학위논문(석사) - 한국과학기술원 : 전기및전자공학전공, 2001.2, [ [iii], 53 p. ] | - |
| dc.language | kor | - |
| dc.publisher | 한국과학기술원 | - |
| dc.subject | 교류 스트레스 | - |
| dc.subject | 열화 | - |
| dc.subject | 다결정 실리콘 박막 트랜지스터 | - |
| dc.subject | 안정성 | - |
| dc.subject | 스트레스 전력 | - |
| dc.subject | Stress Power | - |
| dc.subject | AC stress | - |
| dc.subject | TFT``s | - |
| dc.subject | Polysilicon Thin Film Transistors | - |
| dc.subject | Reliability | - |
| dc.title | 직류와 교류 스트레스에 대한 다결정 실리콘 박막 트랜지스터의 안정성 연구 | - |
| dc.title.alternative | Reliability of polysilicon thin film transistors(TFT's) under DC and AC stresses | - |
| dc.type | Thesis(Master) | - |
| dc.identifier.CNRN | 165426/325007 | - |
| dc.description.department | 한국과학기술원 : 전기및전자공학전공, | - |
| dc.identifier.uid | 000993328 | - |
| dc.contributor.localauthor | 한철희 | - |
| dc.contributor.localauthor | Han, Chul-Hi | - |
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- EE-Theses_Master(석사논문)
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