高解像度反射型トモグラフィ測定システムおよび方法고해상도 반사형 토모그래피 측정 시스템 및 방법

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【課題】本開示は、高解像度反射型トモグラフィ測定システムおよび方法を提供する。 【解決手段】本開示の高解像度反射型トモグラフィ測定システムは、対物レンズ、チューブレンズ、カメラ、時間的には干渉性で空間的には非干渉性の光を導き入れる照明要素、およびチューブレンズとカメラの間で光をサンプルおよび参照ビームに分割して、サンプルからのサンプルビームと参照ビームがトモグラフィ測定のための干渉を発生するようにする半-反射表面要素を含む。
Assignee
KAIST, TOMOCUBE INC
Country
JA (Japan)
Application Date
2024-07-31
Application Number
2024-124887
Registration Date
2026-02-03
Registration Number
7810365
URI
http://hdl.handle.net/10203/339016
Appears in Collection
PH-Patent(특허)
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