표시패널의 결함검사장치APPARATUS FOR INSPECTING DEFECTIONS OF DISPLAY PANEL
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 손훈 | ko |
| dc.contributor.author | 황순규 | ko |
| dc.contributor.author | 박지호 | ko |
| dc.contributor.author | 최상우 | ko |
| dc.contributor.author | 구민상 | ko |
| dc.contributor.author | 정우진 | ko |
| dc.contributor.author | 신은철 | ko |
| dc.contributor.author | 권상혁 | ko |
| dc.date.accessioned | 2024-08-20T11:00:07Z | - |
| dc.date.available | 2024-08-20T11:00:07Z | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/322364 | - |
| dc.description.abstract | 표시패널의 결함검사장치는 테이블, 레이저 가진부, 열파 검출부, 구동부, 및 제어부를 포함한다. 테이블은 표시패널을 지지한다. 상기 표시패널은 화소가 배치된 표시영역 및 상기 표시영역에 인접한 비표시영역을 포함한다. 상기 표시패널의 엣지에 대응하는 그루브가 상기 테이블의 상면에 형성된다. | - |
| dc.title | 표시패널의 결함검사장치 | - |
| dc.title.alternative | APPARATUS FOR INSPECTING DEFECTIONS OF DISPLAY PANEL | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.type.rims | PAT | - |
| dc.contributor.localauthor | 손훈 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 최상우 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 구민상 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 정우진 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 신은철 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 권상혁 | - |
| dc.contributor.assignee | 한국과학기술원, 삼성디스플레이 주식회사 | - |
| dc.identifier.iprsType | 특허 | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2018-0102513 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-2694159-0000 | - |
| dc.date.application | 2018-08-30 | - |
| dc.date.registration | 2024-08-07 | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
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