광소자의 국소적 전류주입 평가 방법 및 이를 이용한 평가 시스템INVESTIGATION METHOD FOR LOCAL CARRIER INJECTION IN PHOTONIC DEVICES AND INVESTIGATION SYSTEM USING THE SAME

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dc.contributor.author조용훈ko
dc.contributor.author임승혁ko
dc.contributor.author공수현ko
dc.date.accessioned2024-02-22T05:00:42Z-
dc.date.available2024-02-22T05:00:42Z-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10203/318171-
dc.description.abstract본 발명은, 광소자의 국소적 전류주입 평가 방법 및 이를 이용한 평가 시스템에 관한 것으로, 보다 구체적으로 광소자의 발광 정보를 측정하는 단계; 및 상기 발광 정보를 이용하여 광소자의 국소적 전류주입 분포를 평가하는 단계; 를 포함하고, 상기 발광 정보는, 전계루미너센스 및 광루미너센스인 광소자의 국소적 전류주입 평가 방법, 이를 이용한 평가 시스템 및 광소자의 제조방법에 관한 것이다. 본 발명은, 비파괴적으로 광소자의 국소 전류주입을 실시간으로 분석할 수 있고, 광소자의 효율과 수율을 개선시키는데 효과적으로 적용할 수 있다.-
dc.title광소자의 국소적 전류주입 평가 방법 및 이를 이용한 평가 시스템-
dc.title.alternativeINVESTIGATION METHOD FOR LOCAL CARRIER INJECTION IN PHOTONIC DEVICES AND INVESTIGATION SYSTEM USING THE SAME-
dc.typePatent-
dc.type.rimsPAT-
dc.contributor.localauthor조용훈-
dc.contributor.assignee한국과학기술원-
dc.identifier.iprsType특허-
dc.identifier.patentApplicationNumber10-2016-0031054-
dc.identifier.patentRegistrationNumber10-1772317-0000-
dc.date.application2016-03-15-
dc.date.registration2017-08-22-
dc.publisher.countryKO-
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