DC Field | Value | Language |
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dc.contributor.author | 박용근 | ko |
dc.contributor.author | 김규현 | ko |
dc.date.accessioned | 2024-02-20T02:01:04Z | - |
dc.date.available | 2024-02-20T02:01:04Z | - |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/318142 | - |
dc.description.abstract | 마이크로 렌즈 3차원 광학 굴절률 촬영 장치 및 방법이 제시된다. 마이크로 렌즈 3차원 광학 굴절률 촬영 방법에 있어서, 광원에서 조사된 빛이 제1 빔 스플리터(beam splitter: BS)를 통과하며 샘플 빔(sample beam)과 기준 빔(reference beam)으로 분리되는 단계; 상기 제1 빔 스플리터에서 분리된 상기 샘플 빔이 샘플 렌즈에 입사되는 단계; 상기 샘플 렌즈를 통과한 상기 샘플 빔과 상기 제1 빔 스플리터를 통과한 상기 기준 빔이 제2 빔 스플리터에 의해 모아지는 단계; 상기 제2 빔 스플리터에서 반사된 상기 샘플 빔과 상기 기준 빔의 간섭무늬를 검출기를 이용하여 측정하는 단계; 및 상기 샘플 렌즈는 회전 지지대(rotating mount: RM)에 고정되며, 상기 회전 지지대의 각도를 회전시켜 복수의 각도에서의 상기 샘플 렌즈에 의한 공간 변조 간섭무늬를 상기 검출기를 이용하여 측정하는 단계를 포함할 수 있다. | - |
dc.title | 마이크로 렌즈 3차원 광학 굴절률 촬영 장치 및 방법 | - |
dc.title.alternative | Optical Tomographic Imaging Apparatus for Imaging Three-Dimensional Maps of Micro Lens and Method thereof | - |
dc.type | Patent | - |
dc.type.rims | PAT | - |
dc.contributor.localauthor | 박용근 | - |
dc.contributor.assignee | 한국과학기술원 | - |
dc.identifier.iprsType | 특허 | - |
dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2015-0138426 | - |
dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-1761014-0000 | - |
dc.date.application | 2015-10-01 | - |
dc.date.registration | 2017-07-18 | - |
dc.publisher.country | KO | - |
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