각회전 QL 스캔 G-UPI 시스템 기반 원통형 구조 스캔 기술 연구

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Publisher
한국비파괴검사학회
Issue Date
2022-10-27
Language
Korean
Citation

2022년 한국비파괴검사학회 추계학술대회

URI
http://hdl.handle.net/10203/304418
Appears in Collection
AE-Conference Papers(학술회의논문)
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