구조물의 변형을 탐지하는 시스템에 이용되는 광섬유간섭측정기 및 그러한 시스템을 이용한 구조물의 변형탐지방법FIBER-OPTIC INTERFEROMETERS USED IN A SYSTEM FOR DETECTING THE STRAIN OF STRUCTURES AND METHOD FOR MEASURING THE STRAIN OF STRUCTURES USING THE SAME

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이 발명은 저렴하고 간단하게 구조물의 변형의 양을 측정함과 아울러 인장변형 또는 압축변형 등과 같은 변형의 방향을 탐지하게 하기 위하여, 레이저광원(16)으로부터 원래의 파장의 광빔이 구조물까지 입력되는 기준레그(11)와, 구조물로부터 제1광검출기(17)까지 이어져서 감지신호를 출력하는 감지레그(12) 및, 한쪽은 광섬유의 끝단에서 빛이 반사되지 않게 하고 다른 쪽은 제2광검출기(18)로 이어져서 변형의 종류를 탐지하기 위한 비교신호를 출력하는 비교레그(13)를 포함하는 것을 특징으로 하는 광섬유간섭측정기를 제공하며, 상기 광섬유간섭측정기는 마이켈슨식 3×3 광섬유간섭측정기(10)이거나 또는 레이저광원(26)으로부터 빛이 광섬유연계기(27a)에 의하여 나뉜 후에 제1 및 제2의 패브리-페롯식 광섬유간섭측정기(20a, 20b)를 포함하는 이중 패브리-페롯식 광섬유간섭측정기(20)일 수 있고, 상기 광섬유간섭측정기(10, 20)를 포함하는 변형탐지 시스템을 이용하여 변형을 탐지하는 방법에서는 감지신호취득단계와, 비교신호취득단계와, 상기 감지신호(S1)와 상기 비교신호(S2)가 적절히 설정된 기준선(R)에 대해 교차하는지의 여부와 그 순서를 판별하는 교차판별단계 및 교차순서검사단계와, 교차여부 및 그 순서에 따라 정현파의 개수를 증감시키는 정현파계수단계 및, 계수된 정현파의 개수를 이용하여 변형의 양을 측정한다.
Assignee
한국과학기술원
Country
KO (South Korea)
Application Date
1997-03-11
Application Number
10-1997-0008150
Registration Date
1999-06-07
Registration Number
10-0217871-0000
URI
http://hdl.handle.net/10203/302516
Appears in Collection
AE-Patent(특허)
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