인쇄회로기판의 통전검사용 프로브 장치probe apparatus for examining conductiveness of printed circuit board

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인쇄회로기판의 통전검사용 프로브 장치가 개시된다. 이 장치는 전자부품을 인쇄회로기판과 결합시키는 결합부와 접촉하여 통전검사를 수행하는 프로브 어셈블리와, 프로브 어셈블리가 직선운동하도록 구동하기 위한 제1구동수단과, 프로브 어셈블리의 직선운동을 안내하기 위한 가이드를 포함하는 인쇄회로기판의 통전검사용 프로브 장치에 있어서, 프로브 어셈블리는 그 선단에서 결합부와 접촉하여 통전검사에 따른 신호를 검출하기 위한 프로브 팁과; 이 프로브 팁의 후단에 결합되어 프로브 팁이 결합부에 접촉할 때 프로브 팁에 가해지는 접촉힘을 측정하기 위한 힘센서와; 프로브 팁이 결합부에 접촉할 때의 프로브 팁의 위치를 측정하기 위한 위치센서와; 측정된 접촉힘과 프로브 팁의 위치에 따라 프로브 팁의 위치를 조정하기 위한 위치조정수단;을 포함한다. 이 장치는 프로브 어셈블리의 결합부에 대한 경사각을 조정하기 위한 제2구동수단을 더 포함할 수 있다. 이에 따라 납땜불량 및 프로브 팁의 진동을 방지하여 안정된 통전검사를 수행할 수 있고, 다양한 납땜부의 표면형상에 대하여 적응성을 향상시킬 수 있다.
Assignee
삼성전자주식회사,한국과학기술연구원
Country
KO (South Korea)
Application Date
1995-12-30
Application Number
10-1995-0069755
Registration Date
1998-11-13
Registration Number
10-0176627-0000
URI
http://hdl.handle.net/10203/302514
Appears in Collection
ME-Patent(특허)
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