DC Field | Value | Language |
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dc.contributor.author | 김석광 | ko |
dc.date.accessioned | 2022-12-10T02:00:27Z | - |
dc.date.available | 2022-12-10T02:00:27Z | - |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/302435 | - |
dc.description.abstract | 본 발명은 섬광법에 의한 열확산 계수 측정장치 및 그 측정방법에 대한 것으로써, 더욱 상세하게는 시편의 표면에 흑연코팅을 하고 이에 대한 겉보기 두께를 측정하는 방법을 사용하므로써 시편의 열확산 계수를 정밀하게 측정하기 위한 섬광법에 의한 열확산계수 측정장치 및 그 측정방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 섬광법에 의한 열확산 계수 측정장치는 레이저(30)를 조사할 수 있는 레이저 발생수단(60);, 레이저(30)가 통과하는 전후면에 흑연층(20)을 가지고 있는 측정시편(10);, 측정시편(10)의 후면에 장착되어 있어서 상기 측정시편(10)에서 발산되는 열(40)로부터 측정시편(1)의 후면 온도와 시간을 측정하는 적외선 센서(70);및, 적외선 센서(80)의 출력신호에 기초하여 연산을 수행하는 연산 수단(80);으로 구성되어 있는 것을 특징으로 한다. 열확산계수, 섬광법, 측정, 시편, 적외선, 겉보기, 흑연층. | - |
dc.title | 섬광법에 의한 열확산 계수 측정장치 및 그 측정방법 | - |
dc.title.alternative | MEASURING DEVICE FOR THERMAL DIFFUSIVITY BY THE FLASH METHOD AND MEASURING METHOD THEREOF | - |
dc.type | Patent | - |
dc.type.rims | PAT | - |
dc.contributor.assignee | 한국과학기술원 | - |
dc.identifier.iprsType | 특허 | - |
dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2007-0108123 | - |
dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-0939062-0000 | - |
dc.date.application | 2007-10-26 | - |
dc.date.registration | 2010-01-20 | - |
dc.publisher.country | KO | - |
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