경면물체의삼차원형상에대한광학적측정장치SPECULAR SURFACE INSPECTION IN THREE DIMENSIONAL MATERIAL BY RETROREFLECTIVE
되반사 재질의 반사광 회귀특성을을 이용하여 경면물체의 삼차원 형상을 물체표면의 전 영역에 걸쳐 측정해내는 장치를 제공하기 위한 본 발명은 광학적 측정장치는 되반사 재질의 반구형의 반사체,레이져 스캐닝미러,빔스플리터,레이져 광원,광센서를 적절히 구성하여 경면물체의 삼차원 형상을 측정하는 시각 측정장치로서,이와 같은 본 발명에 의하면 기존의 일반적인 광학적(시각적인)방법으로는 측정하기 어려운 경면물체의 3차원 형상을 측정할 수 있으며,또한 기존의 경면물체 측정방법보다 단순한 장치의 구성으로 고분해능의 측정을 수행할 수 있다.
- Assignee
- 한국과학기술원
- Country
- KO (South Korea)
- Application Date
- 1993-10-26
- Application Number
- 10-1993-0022378
- Registration Date
- 1997-06-20
- Registration Number
- 10-0116858-0000
- Appears in Collection
- ME-Patent(특허)
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