코돈검색 알고리즘을 이용한 탐침의 제조방법Process for Preparing Probe Using Codon Scanning Algorithm

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본 발명은 코돈 검색 알고리즘을 사용하여 선택된 코돈 영역 전체의 돌연변이 여부를 검색할 수 있는 탐침의 제조방법, 전기 방법으로 제조된 탐침을 이용한 DNA 칩의 제조방법, 전기 제조방법으로 제조된 DNA 칩 및 전기 DNA 칩을 이용한 돌연변이의 검색방법에 관한 것이다. 본 발명의 탐침의 제조방법은 특정 유전질환 환자에서 나타나는 변이 코돈을 선정하는 공정; 및, 선정된 변이 코돈을 7개 이상의 염기로 구성된 DNA 탐침의 중앙 근처에 위치시키고, 변이 코돈 이외의 염기는 정상인의 염기와 동일하며, 3'에 아민기가 결합되도록 탐침을 제조하는 공정을 포함하고, 본 발명의 DNA 칩의 제조방법은 전기 탐침을 고체표면에 고정하는 공정을 포함한다. 본 발명의 DNA 칩을 이용하면 이전의 알고리즘에 의한 탐침의 설계에서 나타난 부정확한 결합으로 인한 잘못된 결과의 해석 가능성을 배제할 수 있고, 이질 돌연변이와 동질 돌연변이를 쉽게 구별할 수 있고, 다양한 유전질환의 원인이 되는 돌연변이 여부와 그 종류를 정확하고 신속히 진단할 수 있을 뿐만 아니라, 코돈 검색 알고리즘에 의해 제작된 DNA 칩을 모든 종류의 유전질환의 검사와 SNP와 같은 유전자 변이의 진단에 적용할 수 있을 것이다. DNA 칩, 코돈 검색 알고리즘
Assignee
한국과학기술원
Country
KO (South Korea)
Application Date
2000-09-29
Application Number
10-2000-0057208
Registration Date
2004-02-18
Registration Number
10-0420785-0000
URI
http://hdl.handle.net/10203/302355
Appears in Collection
CBE-Patent(특허)
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