DC Field | Value | Language |
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dc.contributor.author | 조형석 | ko |
dc.contributor.author | 유영기 | ko |
dc.contributor.author | 강성택 | ko |
dc.date.accessioned | 2022-11-21T03:02:16Z | - |
dc.date.available | 2022-11-21T03:02:16Z | - |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/300240 | - |
dc.description.abstract | 본 고안은 납땜검사장치에 관한 것이다. 좀 더 구체적으로, 본 고안은 인쇄회로기판 상에 형성된 납땜부의 경사도와 높이를 동시에 고정밀도로 측정할 수 있는 납땜검사장치에 관한 것이다. 본 고안의 납땜검사장치는 레이저 방출부(51), 1차 집광렌즈(52) 및 레이저 스캐닝장치(53)로 구성된 레이저 방출수단; 원뿔면경(56), 포물면경(54) 및 센서 유니트(55)로 구성된 경사도 측정부; 전기한 원뿔면경(56)상에 구성된 복수의 광섬유(69), 광섬유(60)의 끝단에 연결된 하부 광센서(61), 빔 스피리터(57), 2차 집광렌즈(58) 및 상부 광센서(59)로 구성된 반사점 측정부; 및, 난반사 측정렌즈(62) 및 PSD 센서(63)로 구성된 반사점 위치측정부를 포함한다. 본 고안의 납땜검사장치에 의해 납땜부의 경사도와 높이를 동시에 고정밀도로 측정하여 납땜부의 형상을 정확히 측정할 수 있는 동시에, 납땜부의 측정시에 오차를 최소화할 수 있으므로, 납땜공정의 품질관리 및 납땜검사 공정개발을 효과적으로 수행할 수 있다. | - |
dc.title | 납땜검사장치 | - |
dc.type | Patent | - |
dc.type.rims | PAT | - |
dc.contributor.localauthor | 조형석 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 유영기 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 강성택 | - |
dc.contributor.assignee | 한국과학기술연구원 | - |
dc.identifier.iprsType | 실용신안 | - |
dc.identifier.patentApplicationNumber | 20-1995-0005318 | - |
dc.identifier.patentRegistrationNumber | 20-0117212-0000 | - |
dc.date.application | 1995-03-24 | - |
dc.date.registration | 1998-02-02 | - |
dc.publisher.country | KO | - |
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