표적 DNA 검출용 조성물과 이를 이용한 표적 DNA의 검출 방법 및 이를 이용한 표적 DNA의 정량 방법Composition for detecting target DNA, and method for detecting target DNA using the same, and method for quantifying target DNA using the same
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 남윤성 | ko |
| dc.contributor.author | 홍철암 | ko |
| dc.contributor.author | 박재철 | ko |
| dc.date.accessioned | 2021-03-26T01:36:51Z | - |
| dc.date.available | 2021-03-26T01:36:51Z | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/281853 | - |
| dc.description.abstract | 본 발명은 A'영역을 포함하는 염기서열을 가지는 표적 DNA를 검출하기 위한 조성물로, 상기 조성물은, 염기서열이 A영역-B영역-C영역-D영역-E영역-F영역-D'영역-C'영역-B'영역-X영역으로 구성되며, X영역 말단에 소광체를 포함하는 제1헤어핀 DNA; 염기서열이 C영역-D영역-F'영역-E'영역-B'영역-A'영역-E영역-F영역-D'영역-X영역으로 구성되며, X영역 말단에 소광체를 포함하는 제2헤어핀 DNA; 염기서열이 F'영역-E'영역-A영역-B영역-D'영역-C'영역-B'영역-A'영역-E영역-X영역으로 구성되며, X영역 말단에 소광체를 포함하는 제3헤어핀 DNA; 및 염기서열 중 X'영역을 포함하는 단일가닥 DNA로 표면 개질된 양자점;을 포함하며, 이때, 상기 A영역은 A'영역과, B영역은 B'영역과, C영역은 C'영역과, D영역은 D'영역과, E영역은 E'영역과, F영역은 F'영역과, X영역은 X'영역과 각각 상보 결합되는 염기서열을 가지는 것인, 표적 DNA 검출용 조성물과 이를 이용한 표적 DNA의 검출 방법, 및 이를 이용한 표적 DNA 정량 방법에 관한 것이다. | - |
| dc.title | 표적 DNA 검출용 조성물과 이를 이용한 표적 DNA의 검출 방법 및 이를 이용한 표적 DNA의 정량 방법 | - |
| dc.title.alternative | Composition for detecting target DNA, and method for detecting target DNA using the same, and method for quantifying target DNA using the same | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.type.rims | PAT | - |
| dc.contributor.localauthor | 남윤성 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 박재철 | - |
| dc.contributor.assignee | 한국과학기술원 | - |
| dc.identifier.iprsType | 특허 | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2019-0070211 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-2233294-0000 | - |
| dc.date.application | 2019-06-13 | - |
| dc.date.registration | 2021-03-23 | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
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