홀 추력기 플라즈마 내 Xe+ 이온의 속도분포 진단을 위한 레이저유도형광 측정시스템 구축

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dc.contributor.author도근태ko
dc.contributor.author김호락ko
dc.contributor.author윤성영ko
dc.contributor.author이동호ko
dc.contributor.author이승훈ko
dc.contributor.author송민우ko
dc.contributor.author최원호ko
dc.date.accessioned2020-07-14T01:55:13Z-
dc.date.available2020-07-14T01:55:13Z-
dc.date.created2020-06-17-
dc.date.issued2017-10-26-
dc.identifier.citation2017 한국물리학회 가을 학술논문발표회, pp.P2-pl.103-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10203/275449-
dc.description.abstract홀방식 플라즈마 추력기는 반경방향의 자기장과 축방향 전기장에 의해 방위각 방향으로 ExB 표류하는 전자에 의해 방전이 유지되고, 자화되지 않아 축방향으로 가속되어 분사되는 이온에 의해 추력을 발생시키는 이온원이다. 홀 추력기 플라즈마 및 분사되는 이온의 물리적 특성을 이해하고, 발생된 추력, 비추력 및 전력효율 등의 성능을 해석하기 위해서는 정확한 이온빔 진단이 필요하다. 레이저유도형광법(Laser Induced Fluorescence Diagnostics)은 가속 이온의 시공간 속도분포함수를 측정함으로써 플라즈마 포텐셜 구조를 재구성하고 플라즈마의 진동을 관찰할 수 있는 매우 유용한 진단법이다. 본 연구에서는 Xe+ 이온의 속도분포함수를 위치의 함수로 측정하기 위해 834.723 nm를 Xe+ 이온의 여기파장으로 선정해 NIR tunable 레이저를 사용하여 LIF 시스템을 구축하였다. 채널 길이와 지름이 각각 25, 50 mm 인 원통형 홀 추력기에서 양극전압이 225 V인 경우 21 km/s까지 Xe+ 이온의 속도가 측정되는데[1], 이는 약 58 pm의 도플러 편이에 해당하기 때문에 wavemeter를 사용하여 빔의 제어 및 파장스캔을 수행하였다. 레이저빔은 지름 1.5 m, 길이 3 m의 진공챔버 내로 입사되어 추력기 플라즈마를 지나도록 시준됐으며, 광전자증폭관과 Lock-in Amp를 사용해 타겟 영역에서 발생한 LIF 시그널을 측정하도록 준비되었다.-
dc.languageEnglish-
dc.publisher한국물리학회-
dc.title홀 추력기 플라즈마 내 Xe+ 이온의 속도분포 진단을 위한 레이저유도형광 측정시스템 구축-
dc.typeConference-
dc.type.rimsCONF-
dc.citation.beginningpageP2-pl.103-
dc.citation.publicationname2017 한국물리학회 가을 학술논문발표회-
dc.identifier.conferencecountryKO-
dc.identifier.conferencelocation경주화백컨벤션센터-
dc.contributor.localauthor최원호-
dc.contributor.nonIdAuthor도근태-
dc.contributor.nonIdAuthor김호락-
dc.contributor.nonIdAuthor윤성영-
dc.contributor.nonIdAuthor이동호-
dc.contributor.nonIdAuthor이승훈-
dc.contributor.nonIdAuthor송민우-
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NE-Conference Papers(학술회의논문)
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