광학 검출 시스템Optical detecting system

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dc.contributor.author박용근ko
dc.contributor.author이겨레ko
dc.contributor.author신승우ko
dc.contributor.author박희준ko
dc.date.accessioned2020-07-02T09:20:35Z-
dc.date.available2020-07-02T09:20:35Z-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10203/275146-
dc.description.abstract본 발명의 일 실시예는 시료를 수용하는 시료부, 상기 시료부로 파동을 조사하는 파동원, 상기 시료부로부터 출사되는 출사파동의 경로 상에 배치되며, 상기 출사파동 중 일부를 제1 파동으로 변조하는 제1 공간 광 변조부와 상기 출사파동 중 일부를 제2 파동으로 변조하는 제2 공간 광 변조부를 구비하는 광학부, 상기 광학부로부터 출사되는 상기 제1 파동과 상기 제2 파동을 집속시키는 렌즈부 및 상기 렌즈부로부터 집속된 집속파동을 검출하는 검출부를 구비하고, 상기 제1 공간 광 변조부 및 상기 제2 공간 광 변조부는 이미 알고 있는 조건의 상기 시료에 대하여 상기 제1 파동과 상기 제2 파동이 상쇄 간섭이 일어나도록 상기 출사파동을 변조하는, 광학 검출 시스템을 제공한다.-
dc.title광학 검출 시스템-
dc.title.alternativeOptical detecting system-
dc.typePatent-
dc.type.rimsPAT-
dc.contributor.localauthor박용근-
dc.contributor.nonIdAuthor신승우-
dc.contributor.nonIdAuthor박희준-
dc.contributor.assignee주식회사 더웨이브톡,한국과학기술원-
dc.identifier.iprsType특허-
dc.identifier.patentApplicationNumber10-2018-0107292-
dc.identifier.patentRegistrationNumber10-2130100-0000-
dc.date.application2018-09-07-
dc.date.registration2020-06-29-
dc.publisher.countryKO-
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