스텔스 전자기적 특성 평가를 위한 전영역 스캐닝 자유공간 측정 시스템 개발Development of full-field scanning free space measurement system for evaluating electromagnetic characteristics of stealth
전파흡수구조의 전자기적 특성 측정을 위한 방법 중 하나로 안테나를 이용한 자유공간 측정 시스템이 있다. 이러한 자유공간 측정 시스템은 대부분 한 점에서의 측정결과를 바탕으로 시편 전체에 대한 평가를 진행하기 때문에, 시편 전영역에 대한 측정 결과를 확인 하는데 한계가 있다. 이에 본 연구에서는 자유공간 측정 시스템에 2축 선형 스테이지를 결합하여 시편 전영역에서의 전자기적 특성 측정 및 평가 할 수 있는 전영역 스캐닝 자유공간 측정 시스템을 개발하였다. 표준 시편 테플론에 대한 유전율 측정을 통해 시스템 검증 및 가시화 하였다. 개발된 시스템은 전파흡수구조 및 Glass/epoxy에 대한 전자기적 특성 분포를 가시화 하였다.
- Advisors
- 이정률researcher; Jung-Ryul Leeresearcher
- Description
- 한국과학기술원 :항공우주공학과,
- Publisher
- 한국과학기술원
- Issue Date
- 2018
- Identifier
- 325007
- Language
- kor
- Description
학위논문(석사) - 한국과학기술원 : 항공우주공학과, 2018.2,[vi, 75 p. :]
- Keywords
스캐닝 자유공간 측정 시스템▼a전파흡수구조▼a반사 & 투과손실▼a유전율 & 투자율▼a전자기파; Scanning free space measurement system▼aMicrowave absorber▼aReflection & transmission loss▼aPermittivity & permeability▼aElectromagnetic wave
- Appears in Collection
- AE-Theses_Master(석사논문)
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