불휘발성 메모리 장치의 채널 특성을 추정하기 위한 방법

Abstract

본 기술은 불휘발성 메모리 장치의 채널 특성을 추정하기 위한 방법에 관한 것이다. 본 발명의 실시 예에 따르면, 분석하고자 하는 불휘발성 메모리 장치의 입력 데이터를 불휘발성 메모리 장치의 물리적 구조를 고려하여 재구성한다. 그리고 재구성된 데이터에 근거하여 피해 셀과 인접 셀들을 포함하는 마스크를 설정한다. 설정한 마스크를 통해 출력 데이터 그룹핑하고, 산술 평균법 또는 램 트레이닝 기법을 사용하여 룩업 테이블을 구성한다. 룩업 테이블에 근거하여 피해 셀의 출력 분포를 구성하면 인접 셀들에 의한 간섭을 분석할 수 있다. 또한, 다양한 형태로 마스크를 변경하여 알고리즘을 수행하면 인접 셀들의 간섭에 의한 분산을 개별적으로 추정할 수 있다. 한편, 노이즈는 출력 데이터를 평균 값만큼 쉬프팅시켜 분석할 수 있다.