T 림프구 계군을 이용한 면역 나이 측정 방법 및 장치Method and apparatus for measuring immunologic age using T lymphocyte subpopulation

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dc.contributor.author신의철ko
dc.contributor.author유희태ko
dc.contributor.author박성하ko
dc.contributor.author윤종찬ko
dc.date.accessioned2019-07-22T01:10:06Z-
dc.date.available2019-07-22T01:10:06Z-
dc.date.issued2019-06-21-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10203/263663-
dc.description.abstract본 발명은 T 림프구 계군(subpopulation)의 빈도를 이용하여 면역 노화 지수를 측정하는 방법 및 장치에 관한 것으로, 면역 노화 관련된 지표인 CD57+CD8+ T 림프구의 빈도로 면역 노화 지수를 예측하는 경우에는 다른 T 림프구 계군의 빈도, 특히 CD28nullCD8+ T 림프구 빈도를 측정하는 것에 비해 노화 관련 질환의 발병 여부의 예측 정확도를 높일 수 있다.-
dc.titleT 림프구 계군을 이용한 면역 나이 측정 방법 및 장치-
dc.title.alternativeMethod and apparatus for measuring immunologic age using T lymphocyte subpopulation-
dc.typePatent-
dc.type.rimsPAT-
dc.contributor.localauthor신의철-
dc.contributor.nonIdAuthor박성하-
dc.contributor.nonIdAuthor윤종찬-
dc.contributor.assignee한국과학기술원,연세대학교 산학협력단-
dc.identifier.iprsType특허-
dc.identifier.patentApplicationNumber10-2017-0059303-
dc.identifier.patentRegistrationNumber10-1993641-0000-
dc.date.application2017-05-12-
dc.date.registration2019-06-21-
dc.publisher.countryKO-
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MSE-Patent(특허)
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