워킹 디스턴스 내에서 각도를 확대하여 빛을 조사하는 광학 현미경 및 그 방법OPTICAL MICROSCOPE FOR IRRADIATING LIGHT TO ENLARGE WITHIN WORKING DISTANCE AND METHOD THEREFOR
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 박용근 | ko |
| dc.contributor.author | 이무성 | ko |
| dc.date.accessioned | 2019-04-15T16:56:53Z | - |
| dc.date.available | 2019-04-15T16:56:53Z | - |
| dc.date.issued | 2018-04-30 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/256346 | - |
| dc.description.abstract | 워킹 디스턴스 내에서 각도를 확대하여 빛을 조사하는 광학 현미경 및 그 방법이 제시된다. 워킹 디스턴스 내에서 각도를 확대하여 빛을 조사하는 광학 현미경은 샘플(sample)을 향해 빛을 조사하는 광원; 상기 광원에서 조사된 상기 빛의 조사 각도를 제어하는 각도 제어부; 상기 각도 제어부에서 조사 각도가 제어된 상기 빛의 조사 각도를 확대시키는 각도 확대부; 및 상기 각도 확대부에서 조사 각도가 확대된 상기 빛을 모아 상기 샘플로 입사시키는 광 수렴부를 포함하고, 상기 각도 제어부 및 상기 각도 확대부에 의해 상기 광 수렴부와 상기 샘플 사이의 소정의 워킹 디스턴스(working distance) 내에서 상기 빛의 조사 각도를 확대하여 상기 샘플에 조사할 수 있다. | - |
| dc.title | 워킹 디스턴스 내에서 각도를 확대하여 빛을 조사하는 광학 현미경 및 그 방법 | - |
| dc.title.alternative | OPTICAL MICROSCOPE FOR IRRADIATING LIGHT TO ENLARGE WITHIN WORKING DISTANCE AND METHOD THEREFOR | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.type.rims | PAT | - |
| dc.contributor.localauthor | 박용근 | - |
| dc.contributor.assignee | 주식회사 토모큐브,한국과학기술원 | - |
| dc.identifier.iprsType | 특허 | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2016-0101660 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-1855298-0000 | - |
| dc.date.application | 2016-08-10 | - |
| dc.date.registration | 2018-04-30 | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
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