마이크로스케일에서의 표면 법선 벡터 및 표면 반사 함수 동시 측정 방법 및 시스템METHOD AND SYSTEM FOR SIMULTANEOUS ACQUISITION OF MICROSCALE REFLECTANCE AND NORMALS
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 김민혁 | ko |
| dc.contributor.author | 남길주 | ko |
| dc.contributor.author | 이주호 | ko |
| dc.date.accessioned | 2019-04-15T16:39:12Z | - |
| dc.date.available | 2019-04-15T16:39:12Z | - |
| dc.date.issued | 2018-06-26 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/256097 | - |
| dc.description.abstract | 일실시예에 따른, 마이크로스케일에서의 표면 법선 벡터 및 표면 반사 함수 동시 측정 시스템은 미리 설정된 간격의 조밀도를 갖는 수백 개의 LED로 구성되어, 내부에 위치하는 오브젝트에 라이트를 방사하는, 반구형 구조의 라이트 돔; 상기 라이트 돔의 중앙에 형성된 홀을 통하여, 상기 라이트 돔이 방사하는 라이트 환경 아래 상기 오브젝트를 촬영하도록 상기 라이트 돔의 상부에 배치되는, 매크로 렌즈가 장착된 카메라; 상기 라이트 돔의 하부에 배치되어 상기 오브젝트가 위치하며, 상기 매크로 렌즈가 장착된 카메라와 상기 오브젝트 사이의 초점 거리를 조절하도록 xyz 방향으로 이동하는, xyz 마이크로 변환 스테이지; 및 상기 라이트 돔과 상기 매크로 렌즈가 장착된 카메라를 제어하여 상기 라이트 돔이 방사하는 라이트 환경 아래 상기 오브젝트를 촬영한 마이크로스케일 이미지를 획득하고, 상기 마이크로스케일 이미지에 기초하여 상기 오브젝트에 대한 표면 법선 벡터 및 표면 반사 함수를 동시에 측정하는, 측정부를 포함한다. | - |
| dc.title | 마이크로스케일에서의 표면 법선 벡터 및 표면 반사 함수 동시 측정 방법 및 시스템 | - |
| dc.title.alternative | METHOD AND SYSTEM FOR SIMULTANEOUS ACQUISITION OF MICROSCALE REFLECTANCE AND NORMALS | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.type.rims | PAT | - |
| dc.contributor.localauthor | 김민혁 | - |
| dc.contributor.assignee | 한국과학기술원 | - |
| dc.identifier.iprsType | 특허 | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2016-0121871 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-1873648-0000 | - |
| dc.date.application | 2016-09-23 | - |
| dc.date.registration | 2018-06-26 | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
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