구조물의 진단 방법 및 진단 시스템DIAGNOSIS METHOD OF STRUCTURE AND DIAGNOSIS SYSTEM

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dc.contributor.author손훈ko
dc.contributor.author송병주ko
dc.contributor.author박병진ko
dc.contributor.authorPeipeiko
dc.date.accessioned2019-04-15T16:37:52Z-
dc.date.available2019-04-15T16:37:52Z-
dc.date.issued2018-07-13-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10203/256066-
dc.description.abstract구조물의 진단 방법은 제1 발진기 및 제2 발진기를 포함하는 구조물 진단 장치에서 수행될 수 있다. 구조물의 진단 방법은 제1 발진기에 의해 대상 구조물에서 생성되는 제1 초음파 신호, 제2 발진기에 의해 대상 구조물에서 생성되는 제2 초음파 신호 및 제1 및 제2 발진기에 의해 대상 구조물에서 생성되는 제3 초음파 신호를 각각 수신하는 단계; 상기 제3 초음파 신호에 기초하여 제1 상태 공간 어트랙터를 계산하는 단계; 상기 제1 초음파 신호 및 상기 제2 초음파 신호에 기초하여 제2 상태 공간 어트랙터를 계산하는 단계; 및 상기 제1 상태 공간 어트랙터 및 상기 제2 상태 공간 어트랙터에 기초하여 상기 대상 구조물의 손상 여부를 판단하는 단계를 포함할 수 있다.-
dc.title구조물의 진단 방법 및 진단 시스템-
dc.title.alternativeDIAGNOSIS METHOD OF STRUCTURE AND DIAGNOSIS SYSTEM-
dc.typePatent-
dc.type.rimsPAT-
dc.contributor.localauthor손훈-
dc.contributor.nonIdAuthor송병주-
dc.contributor.nonIdAuthorPeipei-
dc.contributor.assignee한국과학기술원-
dc.identifier.iprsType특허-
dc.identifier.patentApplicationNumber10-2016-0066363-
dc.identifier.patentRegistrationNumber10-1880194-0000-
dc.date.application2016-05-30-
dc.date.registration2018-07-13-
dc.publisher.countryKO-
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CE-Patent(특허)
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