DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | 조병진 | ko |
dc.contributor.author | 박상현 | ko |
dc.contributor.author | 유충열 | ko |
dc.contributor.author | 김홍수 | ko |
dc.contributor.author | 서민수 | ko |
dc.contributor.author | 김동국 | ko |
dc.date.accessioned | 2019-04-15T15:57:31Z | - |
dc.date.available | 2019-04-15T15:57:31Z | - |
dc.date.issued | 2018-09-06 | - |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/255487 | - |
dc.description.abstract | 본 발명은 관형 폐열원에 적용하기 위한 곡면형 중온 열전 소자의 연구에 있어서 곡면형 열전 소자의 특성을 정확하게 측정할 수 있는 곡면형 열전 소자의 특성 측정용 고온 구조체, 이를 이용한 특성 측정 시스템 및 방법에 관한 것으로, 곡면형 열전 소자의 특성을 측정하기 위한 고온 구조체에 있어서, 봉형태인 복수개의 카트리지 히터; 및 상기 곡면형 열전 소자의 하단에 접하는 곡면인 표면을 구비하고, 상기 복수개의 카트리지 히터를 수용하기 위한 복수개의 홀을 구비하며, 상기 곡면형 열전 소자의 하단을 직접 가열하는 발열체를 포함한다. | - |
dc.title | 곡면형 열전 소자의 특성 측정용 고온 구조체, 이를 이용한 특성 측정 시스템 및 방법 | - |
dc.title.alternative | HIGH TEMPERATURE STRUCTURE FOR MEASURING OF PROPERTIES OF CURVED THERMOELECTRIC DEVICE, SYSTEM FOR MEASURING OF PROPERTIES OF CURVED THERMOELECTRIC DEVICE USING THE SAME AND METHOD THEREOF | - |
dc.type | Patent | - |
dc.type.rims | PAT | - |
dc.contributor.localauthor | 조병진 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 박상현 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 유충열 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 김홍수 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 서민수 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 김동국 | - |
dc.contributor.assignee | 한국에너지기술연구원,한국과학기술원 | - |
dc.identifier.iprsType | 특허 | - |
dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2016-0172455 | - |
dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-1898037-0000 | - |
dc.date.application | 2016-12-16 | - |
dc.date.registration | 2018-09-06 | - |
dc.publisher.country | KO | - |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.