곡면형 열전 소자의 특성 측정용 고온 구조체, 이를 이용한 특성 측정 시스템 및 방법HIGH TEMPERATURE STRUCTURE FOR MEASURING OF PROPERTIES OF CURVED THERMOELECTRIC DEVICE, SYSTEM FOR MEASURING OF PROPERTIES OF CURVED THERMOELECTRIC DEVICE USING THE SAME AND METHOD THEREOF

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dc.contributor.author조병진ko
dc.contributor.author박상현ko
dc.contributor.author유충열ko
dc.contributor.author김홍수ko
dc.contributor.author서민수ko
dc.contributor.author김동국ko
dc.date.accessioned2019-04-15T15:57:31Z-
dc.date.available2019-04-15T15:57:31Z-
dc.date.issued2018-09-06-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10203/255487-
dc.description.abstract본 발명은 관형 폐열원에 적용하기 위한 곡면형 중온 열전 소자의 연구에 있어서 곡면형 열전 소자의 특성을 정확하게 측정할 수 있는 곡면형 열전 소자의 특성 측정용 고온 구조체, 이를 이용한 특성 측정 시스템 및 방법에 관한 것으로, 곡면형 열전 소자의 특성을 측정하기 위한 고온 구조체에 있어서, 봉형태인 복수개의 카트리지 히터; 및 상기 곡면형 열전 소자의 하단에 접하는 곡면인 표면을 구비하고, 상기 복수개의 카트리지 히터를 수용하기 위한 복수개의 홀을 구비하며, 상기 곡면형 열전 소자의 하단을 직접 가열하는 발열체를 포함한다.-
dc.title곡면형 열전 소자의 특성 측정용 고온 구조체, 이를 이용한 특성 측정 시스템 및 방법-
dc.title.alternativeHIGH TEMPERATURE STRUCTURE FOR MEASURING OF PROPERTIES OF CURVED THERMOELECTRIC DEVICE, SYSTEM FOR MEASURING OF PROPERTIES OF CURVED THERMOELECTRIC DEVICE USING THE SAME AND METHOD THEREOF-
dc.typePatent-
dc.type.rimsPAT-
dc.contributor.localauthor조병진-
dc.contributor.nonIdAuthor박상현-
dc.contributor.nonIdAuthor유충열-
dc.contributor.nonIdAuthor김홍수-
dc.contributor.nonIdAuthor서민수-
dc.contributor.nonIdAuthor김동국-
dc.contributor.assignee한국에너지기술연구원,한국과학기술원-
dc.identifier.iprsType특허-
dc.identifier.patentApplicationNumber10-2016-0172455-
dc.identifier.patentRegistrationNumber10-1898037-0000-
dc.date.application2016-12-16-
dc.date.registration2018-09-06-
dc.publisher.countryKO-
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EE-Patent(특허)
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