이미지 처리 기법을 이용하여 균열을 측정하기 위한 장치 및 그 방법APPARATUS FOR MEASURING CRACK USING IMAGE PROCESSING TECHNOLOGY AND METHOD THEREOF
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 홍정욱 | ko |
| dc.contributor.author | 이상언 | ko |
| dc.contributor.author | 진수영 | ko |
| dc.date.accessioned | 2019-04-15T14:57:52Z | - |
| dc.date.available | 2019-04-15T14:57:52Z | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/254627 | - |
| dc.description.abstract | 본 발명에 의한 이미지 처리 기법을 이용하여 균열을 측정하기 위한 장치 및 그 방법이 개시된다. 본 발명의 일 실시예에 따른 이미지 처리 기법을 이용하여 균열을 측정하기 위한 장치는 조사 대상을 촬영한 이미지를 제공 받아 상기 제공 받은 이미지로부터 균열 영역을 검출하는 균열 영역 검출부; 상기 검출된 균열 영역의 중심선에 해당하는 스켈레톤을 추출하는 스켈레톤 추출부; 및 상기 추출된 스켈레톤 상의 픽셀마다 해당 픽셀을 기준으로 하는 소정 크기의 윈도우를 생성하고 상기 생성된 윈도우를 이용하여 해당 픽셀에 있어서의 균열의 진행 방향을 판별하여 그 판별된 균열의 진행 방향에 수직한 방향으로 상기 균열의 폭을 측정하는 균열 영역 측정부를 포함하고, 상기 스켈레톤 추출부는 미리 정해진 알고리즘을 이용하여 상기 검출된 균열 영역의 중심선에 해당하는 스켈레톤을 추출하고, 상기 추출된 스켈레톤에서 적어도 하나의 곁가지를 제거하여 상기 균열 영역의 양쪽 윤곽선과 상기 곁가지가 제거된 스켈레톤이 포함된 바이너리 이미지를 획득한다. | - |
| dc.title | 이미지 처리 기법을 이용하여 균열을 측정하기 위한 장치 및 그 방법 | - |
| dc.title.alternative | APPARATUS FOR MEASURING CRACK USING IMAGE PROCESSING TECHNOLOGY AND METHOD THEREOF | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.type.rims | PAT | - |
| dc.contributor.localauthor | 홍정욱 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 이상언 | - |
| dc.contributor.assignee | 한국과학기술원 | - |
| dc.identifier.iprsType | 특허 | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2017-0162679 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-1932214-0000 | - |
| dc.date.application | 2017-11-30 | - |
| dc.date.registration | 2018-12-18 | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
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