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Heuristics for scheduling burn-in operations in a semiconductor test facility to minimize total tardiness = 반도체 제조 공정 중 번인 공정에서의 납기를 고려한 스케줄링 알고리듬 개발link Lee, Kyoung-Eun; 이경은; Kim, Yeong-Dae; 김영대, 한국과학기술원, 2005 |
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